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纳优科技（北京）有限公司 
| 联系人：唐伟 先生 (销售工程师) |
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| 电 话：0769-82891618 |
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| 手 机：18682362395 |
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| 供应X荧光光谱仪，ROHS检测、卤素检测、重金属检测、合金成分分析 |
应用领域
►RoHS指令筛选检测
►无卤指令筛选检测
►玩具指令筛选检测
►金属镀层测厚
►合金成分分析
技术特点
►配置*新专利技术“样品免拆分”检测模式：采用*新专利技术的光路结构，*小照射光斑直径可达到0.5mm，辅以精确的光斑定位系统，从而可以实现对复杂样品进行免拆分直接测量的要求
►配置符合中国国家标准的样品混测功能：方形4mmⅩ4mm光斑设计，配合0.5mm光斑配合使用，能够对电路板等复杂样品实现“免拆分”区域扫描测量功能；从而显著节省测量时间，大幅度提高检测效率
►配置ON-Line实时在线技术支持系统（选配）：实时解决用户在使用过程中的疑难技术问题，同时对用户操作人员进行培训
►配置十六组复合滤光片：NDA200型配置了16组复合型滤光片，是业界配置*全、数目*多的配置之一；16组滤光片的配置，极大的保证了XRF分析仪针对各种复杂样品检测的适应性
►内置标准工作曲线：仪器内置了满足EU-RoHS以及CHINA-RoHS产品认证要求的基础材料的工作曲线，方便用户直接使用；并与国家指定的认证检测实验室保持一致
►具备开放的工作曲线技术平台：基于开放的工作曲线技术平台，电子生产企业可以建立针对自己工厂特定物料的工作曲线，确保XRF分析仪检测结果的可靠性和准确性
►分析软件操作系统分级管理：仪器系统软件配置了操作员、工程师两级操作功能菜单，便于工厂有序管理；操作员菜单简单直观，避免仪器重要参数的误修改；工程师菜单功能强大，仪器的各种参数设置权限全部开放给用户
►采用经典的迷宫式辐射防护结构：采用了经典的迷宫式辐射防护结构，在保持仪器外形美观操作方便的同时，彻底杜绝低能散射X射线的泄露
►可选配专利技术“影响权系数法”多层镀层测厚功能：纳优科技独创的“影响权系数法”多层镀层测厚技术，显著提高镀层厚度测量的准确度；*大可测量镀层数量为9层；彻底解决了常规XRF测厚方法所不能解决的塑料基体镀层厚度测量的技术难题
►外观设计实用美观：符合人体工程学的仪器外形设计，操作人员测量过程方便舒适 |
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